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DTA差热分析仪（氧化诱导期分析仪）
一、功能和用途：
DTA：差热分析是在程序控制温度下，测量物质与参比物之间的温度差与温度关系的一种技术。差热分析曲线是描述样品与参比物之间的温度(△T)随温度或时间的变化关系。在DTA试验中，样品温度的变化是由于相转变或反应的吸热或放热效应引起的。如：相转变，熔化，结晶结构的转变，沸腾，升华，蒸发，脱氢反应，断裂或分解反应，氧化或还原反应，晶格结构的破坏和其他化学反应。
三、仪器配置 ：
1. GCDZ 差热分析仪 一台
2.气体流量计 、 气体转换装置 一台
3.电源线 一根
4.数据线 两根
5.实验软件光盘 一张
6.样品勺 一只
7.镊子 一只
8.气路皮管（安装到位）
9.陶瓷坩锅、铝坩埚 200只
10. 合格证、保修卡、说明书 各一份
11.品牌电脑 一台
12.打印机 一台
二、技术指标：
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DTA |
GCDZ3320A |
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温度范围 |
室温~1150℃ |
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量程范围 |
0～±2000μV |
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DTA精度 |
±0.1μV |
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升温速率 |
1～60℃/min |
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温度分辨率 |
0.1℃ |
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温度准确度 |
±0.1℃ |
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温度重复性 |
±0.1℃ |
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温度控制 |
升温：程序控制 可根据需要进行参数的调整 |
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降温：风冷 程序控制 可选配 半导体冷却系统、液氮冷却系统 等 | |
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恒温：程序控制 恒温时间任意设定 | |
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炉体结构 |
炉体采用上开盖式结构，代替了传统的升降炉体，精度高，易于操作 |
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气氛控制 |
气体流量计，气氛转换装置 |
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数据接口 |
RS-232串口通讯 配套数据线和操作软件 |
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主机显示 |
汉字大屏液晶显示 蓝底白字 |
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参数标准 |
配有标准物：用户可自行对温度进行校正 |
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基线调整 ：用户可通过基线的斜率和截距来调整基线 | |
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工作电源 |
AC 220V 50Hz |
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符合标准： |
GB/T17391-1998 |
注明：请贵公司需要配置：氮气瓶、氧气瓶以及配套的减压表
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联系人：王彦
联系电话：010-56190449
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